Caractérisation spectrométrique et spectroscopique
Spectroscopie de photoélectrons X (XPS)
Modèles disponibles :
En bref :
Les appareils de spectroscopie de photoélectrons X permettent l'analyse de la composition de surfaces. Les modèles Axis-Ultra et Escalab MKII sont des appareils multisegment couplant plusieurs techniques de caractérisation : XPS, ISS et ASM (Axis-Ultra), XPS, SIMS, ISS et ASM (Escalab MKII).
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Spectroscopie Auger
Modèle disponible :
En bref :
Appareil permettant la cartographie semiquantitative de la composition chimique en surface et en profondeur. Le modèle JEOL permet la rupture in-situ de pièce refroidie à l'azote liquide pour l'analyse de la surface de rupture sans contamination.
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Spectroscopie infrarouge par transformation de Fourier (FT-IR)
Modèles disponibles :
En bref :
Les appareils de FT-IR permettent l'identification de composés organiques et inorganiques et la détermination de structure moléculaire. Entre autres types d'analyses disponibles: réflection totale atténuée (ATR, diamant et germanium), réflexion spéculaire (IRRAS), réflexion diffuse (DRIFTS), imagerie FT-IR.
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Spectrocopie Raman
Modèles disponibles :
En bref :
La spectoscopie Raman permet l'analyse de la structure moléculaire d'éléments organiques et inorganiques. Le modèle Invia de Renishaw est un instrument unique au Québec ayant quatre laser: 488 nm, 514 nm, 633 nm et 785 nm. L'appareil permet un mode confocal, l'imagerie line-focus et le profilage en profondeur.
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Diffractomètre rayons X (DRX)
Modèles disponibles :
En bref :
Les diffractomètres permettent entre autres l'identification des phases cristallines, les mesures de contraintes, d'angle rasant et de qualité de couches épitaxiales.
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Résonance magnétique nucléaire (RMN)
Modèles disponibles :
En bref :
L'équipement d'Agilent-Varian Inova 600 est un appareil hybride pouvant étudier les matériaux solides ou en solution. L'appareil est muni de deux sondes: la première de 4 mm double résonance (vitesse de rotation jusqu'à 18 kHz), la deuxième de 3.2 mm triple résonance BioMas (vitesse de rotation jusqu'à 25 kHz).
Le Agilent-Varian Inova 400 quant à lui, est utilisé principalement pour l'analyse d'échantillons solides sur une large gamme de températures.
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Spectrophotomètre UV-visible
Modèles disponibles :
En bref :
Le spectrophotomètre Evolution 300 de Thermo Scientific permet de réaliser une analyse quantitative dans différentes matrices (eau, flux, etc...). La plage de longueurs d'ondes possibles est de 190 à 1100 nm.
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Tomographe radiographie 3D
En bref :
La tomographie radiographie 3D est une technique d'inspection non-destructive qui permet d'identifier la structure métallique interne, les caractéristiques et les défauts d'un échantillon grâce à une reconstitution 3D. Le modèle XCT-200 de Xradia possède une résolution inférieure à 0.6 microns.
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Microfluorescence radiographique (XRF)
En bref :
La microfluorescence radiographique (µXRF) est une technique non destructive permettant de déterminer la composition au sein d'un échantillon.
Le modèle Fisherscope X-RAY XDV-µ de Fisher Technology permet également la mesure de l'épaisseur de couches à l'aide d'un étalon de calibrage.
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Rayons X 2D
En bref :
L'imagerie aux rayons X 2D est une technique d'inspection non destructive. Le modèle FOX 160.25 de Feinfocus permet l'inspection non destructive de modules microélectroniques.
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Spectromètre d’émission optique muni d’un plasma à couplage inductif (ICP-OES)
Modèles disponibles :
En bref :
L'appareil ICP-OES permet l'analyse quantitative et semi-quantitative des éléments inorganiques.
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