Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie à force atomique (AFM)
Modèles disponibles :
avec atmosphère controlée:
avec cellules liquides:
permettant la lithographie par nanomouillage (dip-pen):
En bref :
Les appareils de microscopie à force atomique permettent la mesure de topographie et de propriétés méchaniques de surfaces. Les AFM ayant des cellules liquides offrent la possibilité d'étudier les phénomène nanoscopiques en milieu biologique. Modes d'analyse: contact, non-contact, force latérale, image de phase, force magnétique, résonance de torsion, contact intermittent (tapping).
Utiliser cet équipement
Microscopie à effet tunnel / Microscopie à force atomique (STM/AFM)
Modèles disponibles :
En bref :
Outre les mesures de routine de la topographie, les appareils AFM/STM sont utilisés entre autre pour : l'étude de l'autoorganisation des molécules, de la croissance des nanostructures, la cartographie de la résistance électrique, mesures de gradient de champs magnétique.
Utiliser cet équipement
