Microscopie électronique à balayage MEB (SEM)
Microscopie électronique à balayage MEB (SEM)
Modèles disponibles :
En bref :
Le modèle JSM 7600 TFE de JEOL est unique au Canada et permet, entre autres, l'observation d'échantillons non-conducteurs à haute résolution. Plusieurs modes d'analyses sont offerts: détection d'électrons rétrodiffusés pour l'analyse de phase, analyse par spectrométrie des rayons X (EDS) et analyses en dispersion de longueur d'ondes (WDS) pour la détermination de la composition chimique par spectrométrie des rayons X.
Le modèle de Zeiss est un appareil multifonction permettant la caractérisation par technique de cathodoluminescence avec une résolution latérale de 100 nm. Cette fonction trouve application dans la caractérisation de points quantiques et de défauts cristallins.
Utiliser cet équipement
